簡要描述：
光譜共焦位移測量儀是一種精度可達次微米量級的非接觸式位移量測系統，對於表面漫反射或鏡反之物體乃至透明材質皆可測量其位移或厚度，基於出光與回傳訊號路徑同軸之特性，彩色共焦位移傳感器亦適合於深孔/盲孔工件等量測應用
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1 穩定量測各類材質, 例如金屬／陶瓷／鏡面／玻璃等
2 適用於各種工件形貌（包含深孔／斜面／弧面）之特徵尺寸量測, 例如高度／段差／厚度／平面度／輪廓度等
3 高溫高壓等嚴苛操作條件下亦能適應正常使用
運行步驟：
1、為了保證每次測量結果的準確，幾乎所有的測量設備或系統在使用前都需要進行校準工作。雖然測量設備和系統在出廠前都經過了嚴謹的校準流程，但這并不是一勞永逸的，隨著在使用環境中溫度、濕度、振動和光照等因素的變化，測量設備和系統可能受到干擾，測量精度將大大被影響。在使用光譜共焦測量設備或系統時，為了保證測量精度，應進行校準流程。
2、光譜共焦傳感器開機啟動設備，靜待15分鐘后機器達到熱平衡狀態；升高測量頭，保證量程范圍之內無任何雜物，為了取得更好的處理效果，建議使用一張白紙*蓋住測量頭；在設備操作軟件界面按下暗信號處理按鍵，或在設備面板上按下采集暗信號實體按鈕，等待光強、測量信號指示燈閃爍完成暗信號采集過程。
3、根據設備面板上的3個LED信號指示燈顏色判定暗信號處理結果，綠色表示暗信號水平滿足所有測量頻率要求；橙色表示當前暗信號水平過高，但仍可滿足高頻率測量應用；紅色表示當前暗信號水平過高，不適宜進行測量，應重新進行暗信號采集流程。
4、在控制器面板上拔出連接測量頭的光纖接頭，并采集暗信號，如LED指示燈顯示綠色，則表明問題來源于測量頭部分，連接測量頭的光纖接口可能存在灰塵污染，利用蘸酒精棉簽輕輕擦拭光纖接口即可。如經測試后還未排除故障，則光纖可能已經損壞，建議更換光纖。
光譜共焦位移測量儀參數：
型號 | GP-20-D2 | GP-60-D6 | GP-40-D4 |
量程範圍 | 2 [mm] | 6 [mm] | 4 [mm] |
工作距離 | 18±1 [mm] | 55±3 [mm] | 33±2 [mm] |
分辨率 *1 | 0.05 [μm] | 0.1 [μm] | 0.2 [μm] |
線性度 *2 | ±0.25 [μm] | ±0.5 [μm] | ±2[μm] |
光點直徑 *3 | 25 [μm] | 45 [μm] | 40 [μm] |
zui大傾角 *4 | ±22 [deg] | ±11 [deg] | ±7 [deg] |
測頭尺寸(φ xL) | φ 34*78.4 [mm] | φ 33*75 [mm] | φ 15*55 [mm] |
測頭重量 | 105 [g] | N/A [g] | N/A [g] |
防護等級 | IP40 | IP40 | IP40 |
控制器 | GP-CON | ||
光源 | LED | ||
控制器尺寸(LxH) | 96*136*136 [mm] | ||
控制器重量 | 1.65 [kg] | ||
額定電壓 | 24 [VDC] | ||
傳輸接口 | RS-232: 115,200bps | ||
Ethernet: 100BASE-TX/10BASE-T | |||
防護等級 | IP20 | ||
測量週期 | 5 ~ 65 [ms] | ||
光纖延長線 | GP-F | ||
長度 | 2 / 5 / 10 [m] | ||
重量 | 23/ 40 / 69 [g] | ||
zui小折彎半徑 *5 | 50 [mm] | ||
環境條件 | |||
操作溫度 | 5~40 [°C] | ||
環境溼度 | 35~80 [%] | ||
環境照度 | <10,000 [lx] | ||
其它 | |||
夾置具 | 可客製化 | ||
*1. 分辨率: 針對靜止工件於量程中心零點平均10次之雜訊大小程度. (開啟光強自動調節及10次平均功能)
*2. 線性度: 針對鏡面標準件於校準後進行滿量程量測時之zui大誤差值. (開啟光強自動調節及10次平均功能)
*3. 光點直徑: 量程中心之理論光斑直徑值.
*4. zui大傾角: 指鏡面全反射材質工件下之zui大可接收光訊號角度, 一般漫反射工件可達±80度.
*5. zui小折彎半徑: 光纖捲曲收納時可接受之zui小曲率半徑, 低於此值易於折斷毀損.
其他量程規格將陸續提供
